偏振二次谐波扫描成像系统
标准二次谐波系统，采用共聚焦的激发和收集方式。该系统可以与用户的飞秒激光器耦合，实现全电动化偏振分辨的微区二次谐波测试。
系统原理示意图
偏振二次谐波扫描成像系统典型数据图
基本功能
· 二次谐波光谱测试；
· 二次谐波Mapping；
· 激发与收集光独立控制的电动偏振扫描；
· 可适配低温台、电学样品台等；
· 可定制其它特色功能。
偏振二次谐波扫描成像系统应用场景
非线性光学材料与器件的非线性光学过程，及二维材料的晶体结构探测
· 二维材料的晶体对称研究；
· 铁电材料的电极化特性研究；
· 反铁磁材料的自旋耦合特性研究。
非线性光子材料SHG / THG特性表征
· 铌酸锂纳米颗粒或者薄膜的SHG产生；
· 二维材料（TMDs）材料的SHG产生；
· 贵金属纳米结构 / TMDs异质结的SHG产生调控等。
典型参数配置
激发光源： 飞秒激光器
空间分辨率： ＜ 1 mm
电动位移行程： 50 mm × 50 mm × 40 mm
扫描精度： ＜ 1 mm，步进最小 0.04 mm
电动位移行程： 50 mm × 50 mm × 40 mm
偏振控制： 电动
光路切换方式： 电动，软件控制
物镜组： 5X，10X，20X，50X，100X可见光物镜；其它物镜可定制
照明光源： 高显色LED面光源
光谱采集： 光纤光谱仪； 台式光栅光谱仪（可选）
软件功能：移动视场，切换物镜，对焦，框选扫描区域均可用鼠标直接在图像显示窗口操作；电动功率调整；自动光路模式切换；自动Mapping；自动化偏振Mapping；实时处理与显示数据