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武汉精测电子集团股份有限公司
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半导体前道制程量检测设备、先进封装量检测设备、后道电性测试设备、电学测试仪器、光学测试仪器等
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JH5520 HBM BI Test System - HBM BI 老化测试设备
JH5520 HBM BI Test System - HBM BI 老化测试设备
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暂无
浏览
4
发货
湖北
付款后3天内
品牌
精测电子
过期
长期有效
更新
2026-09-14 16:21
详细信息
JH5520老化测试系统是针对HBM封装老化测试设备,支持高速、宽温度范围、大负载功耗的动态老化测试解决方案。
©2026 武汉精测电子集团股份有限公司 版权所有 技术支持:
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