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JH5901A Series 逻辑芯片自动化测试系统先进的高性能老化测试系统，能够对汽车电子、医疗设备、5G通信等关键领域的低功率(≤5W)逻辑芯片进行动态老化测试,适用于逻辑器件的生产筛选、工程特性分析以及寿命测试等应用。