J-Metron 6000 Series显示驱动芯片自动测试系统用于显示驱动芯片CP和FT测试环节,属于显示驱动芯片后道测试领域。
J-Metron 6000 Series可以完成显示驱动芯片DC参数测试、AC特性测试及功能完整性验证,确保其品质。
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详细信息 J-Metron 6000 Series显示驱动芯片自动测试系统用于显示驱动芯片CP和FT测试环节,属于显示驱动芯片后道测试领域。 J-Metron 6000 Series可以完成显示驱动芯片DC参数测试、AC特性测试及功能完整性验证,确保其品质。 |